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微分干涉（DIC）

微分干涉（DIC）

適用于檢測(cè)高度差異極其微小的樣本，包括金相組織、
礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。

產(chǎn)品特點(diǎn)

    不必考慮相差環(huán)及聚光鏡環(huán)的遮擋，可以實(shí)現(xiàn)高數(shù)值孔徑的物鏡觀察，提高軸向分辨率
    所觀察到的樣品各組成相間的相對(duì)層次關(guān)系突出，表現(xiàn)出浮雕或三維圖像
產(chǎn)品特點(diǎn)
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品列表